Książki autorstwa Qinghuang LinE. Todd RyanWen-li WuDo Yeung Yoon

Znaleziono 1 – 1 z 1 pozycji

1. 

   Materials, Processes, Integration and Reliability in Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics: Volume 990

   Qinghuang LinE. Todd RyanWen-li WuDo Yeung Yoon | Materials Research Society, 2007

   
   

   50 % szansa - Przeszukamy cały świat

   Język: Angielski

   Oprawa: Twarda

   38.03 €

   Kup książkę

W szczegółach książki sprawdzisz, kiedy ją dostaniesz. Zobacz więcej